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  • Phascl2Analysis熱阻測試儀
    Phascl2Analysis熱阻測試儀
    Analysis熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IlGBT,IC等分立功率器件的熱阻測試及分析。
    更新時(shí)間:2024-10-14    訪問量:1303    型號(hào):Phascl2
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  • Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測試儀
    Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測試儀
    Analysis熱導(dǎo)系統(tǒng)測試儀是一套自動(dòng)測量系統(tǒng),用來測量那些電子封裝材料和多種柔性的,堅(jiān)硬的,半固狀的和粘稠狀的材料熱阻抗和熱導(dǎo)率需要測量的樣品被夾在兩個(gè)平行執(zhí)行熱傳導(dǎo)的平面中間,一端是被加熱的,另一端是被冷卻的,這樣可以迫使可測量的熱量通過樣品
    更新時(shí)間:2024-10-14    訪問量:4615    型號(hào):
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  • Phasc12ANATECH熱阻測試儀
    Phasc12ANATECH熱阻測試儀
    ANATECH熱阻測試儀Phascl2主要用于測試二極管,三極管,線形調(diào)壓器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IlGBT,IC等分立功率器件的熱阻測試及分析。
    更新時(shí)間:2024-10-14    訪問量:1923    型號(hào):Phasc12
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  • 32EHD瞬斷監(jiān)測儀
    32EHD瞬斷監(jiān)測儀
    瞬斷監(jiān)測儀產(chǎn)自美國 Analysis Tech(Anatech)公司,符合美軍標(biāo)和 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn). Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,坐落于波士頓北部,是電子封裝器件可靠性測試的設(shè)計(jì),制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國麻省理工的博士,并且是提出焊點(diǎn)可靠性,熱阻分析和熱導(dǎo)率理論的專家. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測試于分析,熱導(dǎo)率及焊點(diǎn)可靠......
    更新時(shí)間:2024-10-17    訪問量:2150    型號(hào):32EHD
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